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         | X射線熒光測試儀 |  
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             | 型 號(hào):XDLM |  | 品 牌:德國菲希爾Fischer |  | 技術(shù)指標(biāo):適用于遠(yuǎn)距離測量(DCM方法,范圍0-80 mm) |   |    	  德宏X射線熒光測試儀-XDLM-德國菲希爾Fischer
 
 X射線熒光測試儀,磁性涂層測厚儀,可在微小樣品上,涂層測厚儀廠家,手動(dòng)或全自動(dòng)測量印刷線路板、電子元件和大規(guī)模生產(chǎn)零部件上的鍍層厚度。包括鎳層測厚、化鎳厚度等。
 
 
 
 XDLM鍍層厚度測量儀特點(diǎn)
 
 通用性極廣,青島涂層測厚儀,因?yàn)榕鋫淞宋⒕劢构堋?個(gè)可切換準(zhǔn)直器和 3 個(gè)基本濾片
 
 適用于微小結(jié)構(gòu),電磁涂層測厚儀,如接插件或線路板
 
 還適用于遠(yuǎn)距離測量(DCM方法,西安涂層測厚儀,范圍0-80 mm)
 
 底部C型開槽的大容量測量艙
 
 可編程的臺(tái)式設(shè)備,德國思創(chuàng)涂層測厚儀,用于自動(dòng)測量 
  
 XDLM鍍層厚度測量儀典型應(yīng)用領(lǐng)域
 
  測量印刷線路板工業(yè)中,日照涂層測厚儀應(yīng)用,薄金、鈀和鎳鍍層。鎳層測厚、化鎳厚度
  
 
 在電子和半導(dǎo)體行業(yè)中測量功能性鍍層。
  
 
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